20 февраля 2020 года в 16:00 ч. в РГАИС состоялось первое заседание Научной школы Промышленной собственности по теме: «Выделение признаков для сопоставительного анализа или «нарезки» формулы изобретения/полезной модели».  

Заседание Научной школы началось с приветственного слова и.о. ректора ФГБОУ ВО РГАИС Аракеловой А.О., в котором отмечалось общее намерение о продолжении традиции проведения научных школ как одной из наиболее эффективных площадок по обмену опытом и изучению наиболее трудных случаев экспертной практики. 

 

В качестве модератора научной школы был приглашен Хорошкеев В.А. (генеральный директор Ассоциации судебной экспертизы интеллектуальной собственности, директор Патентного бюро «Решерш», патентный поверенный). Он выступил с докладом по теме заседания, в котором затронул наиболее сложные и интересные случаи из профессиональной практики, касающиеся совпадения количества признаков, выделенных разными экспертами из одной и той же формулы изобретения на примере объектов городского хозяйства. Также были отдельно отмечены и сложности, связанные с непосредственной работой эксперта «на месте» с целью исследования объекта. В части судебной экспертизы и составления заключения для участников встречи были продемонстрированы выдержки из исследовательской и заключительной части итогового экспертного заключения, которые содержали как типичные, так и редкие существенные ошибки других экспертов, связанные с особенностями русского языка при описании признаков и их смысловых значений. Отдельно был затронут вопрос по оценке признаков, включённых в формулу изобретения, но не имеющих отношения к защищаемому объекту. 

 

В процессе освещения основного доклада было задано много вопросов На заседании развернулась интересная, живая дискуссия. 

В дискуссии принял участие Христофоров А.А. (президент Межрегиональной общественной организации содействия деятельности патентных поверенных «Палата патентных поверенных», партнер юридической фирмы Gowling WLG, адвокат, патентный поверенный). 

В конце встречи Китайский В.А. (научный руководитель Научной школы Промышленной собственности, доцент кафедры Патентного права и правовой охраны средств индивидуализации, к.т.н.) пригласил присутствующих на курс повышения квалификации «Судебная экспертиза объектов промышленной собственности», который будет полезен широкому кругу слушателей и позволит приобрести бесценные компетенции в сфере теоретических и практических знаний в области судебной экспертизы, в частности, объектов промышленной собственности – изобретений, полезных моделей, промышленных образцов и средств индивидуализации. 

 

В заседании приняли участие более 70 чел. (патентные поверенные, патентоведы, специалисты ФИПС, сотрудники РГАИС, аспиранты, студенты).